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X熒光光譜儀檢測獲取準確結果
發(fā)布時間：2023-06-14 11:38:31 點擊：2442
臺式X熒光光譜儀同樣能做定量分析檢測，對于樣品的選擇需要嚴格的多，如果要獲取更為準確的檢測結果，樣品需要做好處理。
樣品表面暴露在空氣中被氧化，而X熒光光譜儀為表面分析方法，可能會導致樣品分析結果隨時間增長呈不斷增高的趨勢。測量前應先將氧化膜磨掉，樣品表面的光澤程度對分析結果的影響也較大，樣品表面不光滑，凸凹不平，都會影響測量結果，所以應盡量將表面磨平整。
X熒光光譜儀的分析檢測
干擾元素的影響，雖然X射線熒光光譜比較簡單，絕大部分是單獨的譜線，但在一個復雜的樣品中，譜線干擾仍是不可忽視的。有時甚至會造成嚴重的干擾。由于干擾元素存在，進行分析樣品時干擾元素的譜線與待測元素的譜線有重合，造成測得的強度偏大，給分析結果帶來偏差。一般地，看元素譜線的干擾并不是太困難的，一，要了解一些常見的、易干擾元素的譜線位置以及干擾的情況，在對樣品的測試圖譜進行判斷時，很關鍵的一點是，如果有某種元素存在。那么它應該有多個位置的、多條譜線同時存在。看兩條以上的譜線，例如Pb，需要看PbLa和PbLbl這兩條。如果Pb元素真的含有，則兩條譜線都會有比較明顯的波峰出現(xiàn)。如果Pb元素真的含有并受到其它元素的干擾而造成了偏大，則兩條譜線都會出現(xiàn)波峰，但是兩條譜線所測試出來的結果會相差比較大?？朔姆椒ㄓ校罕苊飧蓴_線，選用無干擾的譜線作分析線。適當?shù)剡x擇儀器測量條件，提高儀器的分辨本領，降低X光管的管電壓至干擾元素激發(fā)電壓以下，防止產(chǎn)生干擾元素的譜線，進行數(shù)學校正，現(xiàn)代儀器上都有數(shù)學校正程序。
運用X熒光光譜儀做樣品的元素分析，是一種高效的分析檢測方法，做好樣品的處理及剔除干擾元素的影響，怎能獲取準確的檢測結果。
