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JJG768-2005《發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程》
發(fā)布時(shí)間：2020-08-25 10:00:06 點(diǎn)擊：5885
JJG768-2005《發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程》適用于發(fā)射光譜儀(以下簡稱儀器)的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗(yàn)。儀器的定型鑒定和樣機(jī)試驗(yàn)中有關(guān)計(jì)量性能試驗(yàn)可參照本規(guī)程進(jìn)行。
發(fā)射光譜儀
儀器按激發(fā)光源和檢測(cè)系統(tǒng)的不同分為三類。第一類:電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(簡稱ICP光譜儀)，包括順序掃描型、多道同時(shí)型(檢測(cè)器為光電倍增管)、全譜直讀型(檢測(cè)器為CCD或CID貨CMOS)等幾種類型;第二類:火花/電弧直讀光譜儀(簡稱直讀光譜儀)，包括大型和便攜式兩種類型;第三類:攝譜儀。
JJG768-2005《發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程》規(guī)定了以上三種儀器的檢定，檢定規(guī)程是作為檢定計(jì)量器具的計(jì)量性能依據(jù)，具有國家法定性的技術(shù)文件。大家可以查閱相關(guān)的文件資料，很多文庫網(wǎng)站都有。
