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       直讀光譜分析法是目前很常用的一種金屬檢測方法，作為基本檢測手段，對于在檢測中需要注意下面的幾個事項：

       光譜背景的來源、影響及扣除

       (1)光譜背景的來源熾熱固體，如熾熱的電極頭及一些熾熱固體炭顆粒發(fā)射的連續(xù)光譜、在光源中生成的雙原子分子輻射的帶光譜、分析線旁的散射線、感光板上的灰霧以及光學系統(tǒng)的雜散光等都會造成光譜背景。

       (2)光譜背景的影響背景增加會降低譜線-背景比值，影響檢出限。分析線有背景時，會使校準曲線斜率降低，并出現(xiàn)下部彎曲現(xiàn)象；內(nèi)標線有背景時，會使校準曲線平移。也就是說，由于背景的存在，會改變校準曲線的形狀和位置，從而影響光譜分析的準確度和靈敏度。因此，背景扣除常常是光譜定量分析中必不可少的工作。

       (3)光譜背景的扣除譜線的總強度，指譜線強度與背景強度之和。光譜背景的扣除，就是從總強度中減去背景強度。

       緩沖劑

       為了消除試樣組成對譜線強度的影響，常在粉末試樣中加入光譜緩沖劑以抵償試樣組成變化的影響。光譜緩沖劑的主要作用是稀釋試樣，控制電弧的放電特性，促進試樣有規(guī)律的蒸發(fā)，且對所有化合物具有ZUI小的基體效應。

直讀光譜儀的光譜分析

       發(fā)射光譜分析的檢出限及改善檢出限的途徑

       檢出限是指用特定的分析方法，可以可靠檢出的分析物的ZUI小量或ZUI小濃度，前者稱為絕對檢出限，后者稱為相對檢出限。元素檢出限的高低與元素性質(zhì)，樣品組成，儀器性能和分析條件等密切相關，只有這些條件都確定后，元素的檢出限才是一個可比較的參數(shù)。

       實際工作中，為改善發(fā)射光譜分析的檢出限，可采用如下途徑：

       ①減小分析信號和背景的隨機噪聲；

       ②采用適當?shù)膬?nèi)標元素和內(nèi)標法，以減小和補償非隨機噪聲；

       ③提高凈分析信號強度或減小背景強度，使信背比增大；

       ④增大校正曲線斜率和檢測器的相對響應因子，使分析信號和背景噪聲的相對影響較?。?/strong>