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直讀光譜儀標(biāo)準(zhǔn)樣品會(huì)不會(huì)影響分析
發(fā)布時(shí)間：2022-04-27 09:56:28 點(diǎn)擊：2738
直讀光譜儀的測(cè)量是一種比較分析方法，他需要有相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)樣品作為對(duì)比，它的狀態(tài)會(huì)直接影響到分析結(jié)果。
標(biāo)準(zhǔn)樣品的組織狀態(tài)和分析試樣存在差異。在進(jìn)行固體金屬材料分析時(shí)，分析試樣和標(biāo)準(zhǔn)試樣的組織狀態(tài)經(jīng)常存在差異（如鑄造狀態(tài)的鋼樣，和經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓等狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不同）。 根據(jù)組織結(jié)構(gòu)的不同，直讀光譜分析中某些元素的測(cè)定結(jié)果也不同，引起了系統(tǒng)誤差。
如果標(biāo)準(zhǔn)樣品和樣品中第三元素的含量和化學(xué)組成不完全相同，則可能引起基質(zhì)線和分析線的強(qiáng)度變化，從而引起系統(tǒng)誤差。樣品中基質(zhì)元素和分析元素以外的其他元素干擾檢測(cè)分析。
試樣在分析前需要進(jìn)行樣品前處理，但是如果標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析試樣的處理不同，也會(huì)造成影響。磨光粗細(xì)要一致，沒有十字紋。打磨的力量不要太大。另外，要用力使其均勻，以實(shí)現(xiàn)操作的一致。用力過猛時(shí)，試樣的磨光會(huì)過熱，試樣表面容易氧化。
直讀光譜儀的標(biāo)準(zhǔn)樣品
由于光譜分析消耗的樣品少，樣品中元素分布的不均勻性、組織結(jié)構(gòu)的不均勻性，不同部位的分析結(jié)果不同。不均勻性的主要原因是：冶煉過程中帶入的夾雜物樣品熔煉過程中發(fā)生的偏析，樣品元素分布不均勻樣品加工過程中加入的磨粒和金屬元素，樣品紋路交叉，樣品打磨樣品時(shí)過熱，樣品拋光面放置時(shí)間過長， 樣品取樣冷卻過程中的缺陷，如：氣孔、裂紋、沙眼等。
在進(jìn)行直讀光譜儀分析時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)樣品的狀態(tài)需要保持和分析樣品一致，以保證檢測(cè)的有效性。上一篇：直讀光譜磨樣機(jī)的正確操作方法 下一篇：ICP光譜分析儀是怎么樣的儀器
